
Fortell venner om denne varen:
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition
Kenneth M. Butler
Pris
¥ 15.961
Bestillingsvarer
Forventes levert 6. - 14. aug
Legg til iMusic ønskeliste
Eller
Finnes også som:
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition
Kenneth M. Butler
For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.
132 pages, biography
Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
Utgitt | 31. oktober 1991 |
ISBN13 | 9780792392224 |
Utgivere | Springer |
Antall sider | 132 |
Mål | 155 × 235 × 11 mm · 399 g |
Språk | Engelsk |
Se alt med Kenneth M. Butler ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )