Fortell venner om denne varen:
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Fred Stevie
Pris
Mex$ 1.178
Bestillingsvarer
Forventes levert 3. - 12. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Fred Stevie
150 pages
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 15. september 2015 |
| ISBN13 | 9781606505885 |
| Utgivere | Momentum Press |
| Antall sider | 150 |
| Mål | 152 × 229 × 16 mm · 390 g |
| Språk | Engelsk |
Se alt med Fred Stevie ( f.eks. Pocketbok )