Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Bøker - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 6. april 2021
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pris
NOK 1.749

Bestillingsvarer

Forventes levert 30. des - 8. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

288 pages

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 6. april 2021
ISBN13 9781786306876
Utgivere ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Antall sider 288
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Språk Engelsk  

Mer med Pierre-Richard Dahoo

Vis alle

Se alt med Pierre-Richard Dahoo ( f.eks. Innbunden bok )