Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models - Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) - Bøker - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780128007471 - 21. mars 2014
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Pris
NOK 789

Bestillingsvarer

Forventes levert 9. - 20. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Helps you educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level.

108 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 21. mars 2014
ISBN13 9780128007471
Utgivere Elsevier Science Publishing Co Inc
Antall sider 108
Mål 154 × 228 × 6 mm   ·   154 g

Se alt med Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) ( f.eks. Pocketbok )