Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Bøker - Chapman and Hall - 9780412145612 - 31. januar 1999
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Lawrence C Wagner
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

Pris
NOK 1.629

Bestillingsvarer

Forventes levert 9. - 19. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. januar 1999
ISBN13 9780412145612
Utgivere Chapman and Hall
Antall sider 255
Mål 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g
Språk Engelsk  
Redaktør Wagner, Lawrence C.

Se alt med Lawrence C Wagner ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )