Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II 2000 edition

L Skuja

Pris

元 1.513

Bestillingsvarer

Forventes levert 31. jul - 8. aug

Kundene våre sier:

Legg til iMusic ønskeliste

Eller

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Media	Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt	31. desember 2000
ISBN13	9780792366850
Utgivere	Springer
Antall sider	624
Mål	155 × 235 × 34 mm · 1,06 kg
Språk	Engelsk
Redaktør	Griscom, David L.
Redaktør	Pacchioni, Gianfranco
Redaktør	Skuja, Linards