Hierarchical Modeling for Vlsi  Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288190 - 26. september 2011
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

Pris
NOK 1.099

Bestillingsvarer

Forventes levert 9. - 19. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller

160 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 26. september 2011
ISBN13 9781461288190
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 160
Mål 155 × 235 × 10 mm   ·   254 g
Språk Engelsk  

Mer med Debashis Bhattacharya

Vis alle