Fortell venner om denne varen:
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis Joseph Goldstein 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Pris
NOK 1.209
Bestillingsvarer
Forventes levert 5. - 12. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
| Media | Bøker Bok |
| Utgitt | 31. mai 2013 |
| ISBN13 | 9781461349693 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 689 |
| Mål | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
| Språk | Engelsk |
Mer med Joseph Goldstein
Vis alleAndre har også kjøpt
Se alt med Joseph Goldstein ( f.eks. Pocketbok , Innbunden bok , Bok , CD og Orakelkort/tarotkort )