
Fortell venner om denne varen:
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics
Sarah Fearn
Pris
S$ 171
Bestillingsvarer
Forventes levert 6. - 15. aug
Legg til iMusic ønskeliste
Eller
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics
Sarah Fearn
66 pages
Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
Utgitt | 16. oktober 2015 |
ISBN13 | 9781643279107 |
Utgivere | Morgan & Claypool Publishers |
Antall sider | 66 |
Mål | 340 g |
Se alt med Sarah Fearn ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )