Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Bøker - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12. august 2016
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Pris
NOK 1.759

Bestillingsvarer

Forventes levert 8. - 19. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 12. august 2016
ISBN13 9781848219366
Utgivere ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Antall sider 320
Mål 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

Mer med Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Vis alle

Se alt med Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) ( f.eks. Innbunden bok )