Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Bøker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 14. oktober 2021
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Pris
元 384

Bestillingsvarer

Forventes levert 10. - 18. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 14. oktober 2021
ISBN13 9783030516123
Utgivere Springer Nature Switzerland AG
Antall sider 114
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
Språk Tysk  

Se alt med Behnam Ghavami ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )