Fortell venner om denne varen:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques Sebastian Huhn 2021 edition
Pris
NOK 1.129
Bestillingsvarer
Forventes levert 29. jul - 6. aug
Få varsel om nye utgivelser fra Sebastian Huhn
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Sebastian Huhn
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 20. april 2021 |
| ISBN13 | 9783030692087 |
| Utgivere | Springer Nature Switzerland AG |
| Antall sider | 164 |
| Mål | 150 × 220 × 20 mm · 439 g |
| Språk | Tysk |
Mer med Sebastian Huhn
Vis alleMer fra samme **utgiver**
Se alt med Sebastian Huhn ( f.eks. Innbunden bok , Pocketbok og Bok )