Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Bøker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692087 - 20. april 2021
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Sebastian Huhn
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Få en e-post når varen er tilgjengelig
Har du en profil? Logg inn
Få varsel om nye utgivelser fra Sebastian Huhn

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 20. april 2021
ISBN13 9783030692087
Utgivere Springer Nature Switzerland AG
Antall sider 164
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   439 g
Språk Tysk  

Mer med Sebastian Huhn

Vis alle

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Sebastian Huhn ( f.eks. Pocketbok , Innbunden bok og Bok )