Fortell venner om denne varen:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques Sebastian Huhn 2021 edition
Pris
NOK 1.089
Bestillingsvarer
Forventes levert 17. - 25. jun
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Sebastian Huhn
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 20. april 2022 |
| ISBN13 | 9783030692117 |
| Utgivere | Springer Nature Switzerland AG |
| Antall sider | 164 |
| Mål | 150 × 220 × 10 mm · 296 g |
| Språk | Tysk |
Mer med Sebastian Huhn
Vis alleMere med samme udgiver
Se alt med Sebastian Huhn ( f.eks. Innbunden bok , Pocketbok og Bok )