Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Bøker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 20. april 2022
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Pris
NOK 1.089

Bestillingsvarer

Forventes levert 17. - 25. jun
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 20. april 2022
ISBN13 9783030692117
Utgivere Springer Nature Switzerland AG
Antall sider 164
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Språk Tysk  

Mer med Sebastian Huhn

Vis alle

Mere med samme udgiver