Fortell venner om denne varen:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler 2004 edition
Pris
NOK 3.549
Bestillingsvarer
Forventes levert 9. - 20. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 2. juni 2004 |
| ISBN13 | 9783211206874 |
| Utgivere | Springer Verlag GmbH |
| Antall sider | 554 |
| Mål | 178 × 254 × 31 mm · 1,18 kg |
| Språk | Engelsk Tysk |