Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials - M Lanza - Bøker - Wiley-VCH Verlag GmbH - 9783527340910 - 11. oktober 2017
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

M Lanza

Logg på for å få beskjed når varen er tilgjengelig igjen

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste

Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.

400 pages

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 11. oktober 2017
ISBN13 9783527340910
Utgivere Wiley-VCH Verlag GmbH
Antall sider 384
Mål 251 × 176 × 25 mm   ·   978 g
Språk Engelsk  
Redaktør Lanza, Mario

Se alt med M Lanza ( f.eks. Innbunden bok )