Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Bøker - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 1. november 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Pris
NOK 3.209

Bestillingsvarer

Forventes levert 31. des - 8. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 1. november 2012
ISBN13 9783709172049
Utgivere Springer Verlag GmbH
Antall sider 554
Mål 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Språk Engelsk  

Mer med Peter Pichler

Vis alle

Se alt med Peter Pichler ( f.eks. Bok , Innbunden bok og Pocketbok )