Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - Souvik Mahapatra - Bøker - Springer, India, Private Ltd - 9788132225072 - 14. august 2015
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Souvik Mahapatra
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

Pris
NOK 1.099

Bestillingsvarer

Forventes levert 7. - 15. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

269 pages, 133 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 17 black & white tables, biogra

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 14. august 2015
ISBN13 9788132225072
Utgivere Springer, India, Private Ltd
Antall sider 269
Mål 155 × 235 × 20 mm   ·   689 g
Redaktør Mahapatra, Souvik

Se alt med Souvik Mahapatra ( f.eks. Innbunden bok )