CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Jiann-Shiun Yuan - Bøker - Springer Verlag, Singapore - 9789811008825 - 21. april 2016
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Jiann-Shiun Yuan
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

Pris
NOK 559

Bestillingsvarer

Forventes levert 24. des - 1. jan 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

106 pages, 101 black & white illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 21. april 2016
ISBN13 9789811008825
Utgivere Springer Verlag, Singapore
Antall sider 106
Mål 155 × 235 × 6 mm   ·   1,83 kg

Mer med Jiann-Shiun Yuan

Vis alle

Se alt med Jiann-Shiun Yuan ( f.eks. Bok og Pocketbok )