Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Cher Ming Tan - Bøker - Springer Verlag, Singapore - 9789814451208 - 4. mai 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 2013 edition

Pris
NOK 499

Bestillingsvarer

Forventes levert 11. - 19. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Cher Ming Tan
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.


120 pages, 73 black & white illustrations, 2 colour illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 4. mai 2013
ISBN13 9789814451208
Utgivere Springer Verlag, Singapore
Antall sider 103
Mål 155 × 235 × 6 mm   ·   1,88 kg

Mer med Cher Ming Tan

Mer fra samme **utgiver**