Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bøker - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - 31. mars 1986
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


Få en e-post når varen er tilgjengelig
Har du en profil? Logg inn
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. mars 1986
ISBN13 9780306421402
Utgivere Springer Science+Business Media
Antall sider 454
Mål 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Språk Engelsk  

Mer med Patrick Echlin

Vis alle

Mere med samme udgiver