Fortell venner om denne varen:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 31. mars 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Utgivere | Springer Science+Business Media |
| Antall sider | 454 |
| Mål | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Språk | Engelsk |
Mer med Patrick Echlin
Vis alleMere med samme udgiver
Se alt med Patrick Echlin ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )