Fortell venner om denne varen:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
Har du en profil? Logg inn
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Patrick Echlin
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 31. mars 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Utgivere | Springer Science+Business Media |
| Antall sider | 454 |
| Mål | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Språk | Engelsk |