Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 8. juni 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Pris
NOK 999

Bestillingsvarer

Forventes levert 4. - 12. jun
Legg til iMusic ønskeliste
eller

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 8. juni 2013
ISBN13 9781475790290
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 454
Mål 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Språk Engelsk  

Mer med Patrick Echlin

Vis alle

Mere med samme udgiver