Fortell venner om denne varen:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition
Pris
NOK 999
Bestillingsvarer
Forventes levert 4. - 12. jun
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 8. juni 2013 |
| ISBN13 | 9781475790290 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 454 |
| Mål | 152 × 229 × 24 mm · 630 g |
| Språk | Engelsk |
Mer med Patrick Echlin
Vis alleMere med samme udgiver
Se alt med Patrick Echlin ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )