Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization - A W Czanderna - Bøker - Springer Science+Business Media - 9780306458965 - 31. oktober 1998
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

A W Czanderna
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition

Pris
NOK 1.719

Bestillingsvarer

Forventes levert 18. nov - 2. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra A W Czanderna

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

430 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. oktober 1998
ISBN13 9780306458965
Utgivere Springer Science+Business Media
Antall sider 430
Mål 156 × 234 × 25 mm   ·   811 g
Redaktør Czanderna, Alvin W.
Redaktør Madey, Theodore E.
Redaktør Powell, Cedric J.

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med A W Czanderna