Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition - Joseph Goldstein - Bøker - Springer Science+Business Media - 9780306472923 - 31. januar 2003
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Third Edition 2003 edition


Få en e-post når varen er tilgjengelig
Har du en profil? Logg inn
Få varsel om nye utgivelser fra Joseph Goldstein
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.


709 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. januar 2003
ISBN13 9780306472923
Utgivere Springer Science+Business Media
Antall sider 689
Mål 178 × 255 × 38 mm   ·   1,68 kg

Mer med Joseph Goldstein

Vis alle

Mer fra samme **utgiver**