Fortell venner om denne varen:
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Adam Foster And Ed. edition
Har du en profil? Logg inn
Få varsel om nye utgivelser fra Adam Foster
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology
Adam Foster
Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.
282 pages, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 28. juni 2006 |
| ISBN13 | 9780387400907 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 282 |
| Mål | 155 × 235 × 17 mm · 589 g |