Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400907 - 28. juni 2006
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology And Ed. edition


Få en e-post når varen er tilgjengelig
Har du en profil? Logg inn
Få varsel om nye utgivelser fra Adam Foster
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 28. juni 2006
ISBN13 9780387400907
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 282
Mål 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g

Mer med Adam Foster

Mer fra samme **utgiver**