Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing - Mohammad Tehranipoor - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387747460 - 10. desember 2007
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition

Mohammad Tehranipoor

Pris
NOK 1.609

Bestillingsvarer

Forventes levert 26. nov - 4. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.


424 pages, 1, black & white illustrations

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 10. desember 2007
ISBN13 9780387747460
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 408
Mål 155 × 235 × 23 mm   ·   811 g
Språk Engelsk  
Redaktør Tehranipoor, Mohammad

Vis alle

Mer med Mohammad Tehranipoor