Fortell venner om denne varen:
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition
Mohammad Tehranipoor
Pris
NOK 1.609
Bestillingsvarer
Forventes levert 26. nov - 4. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing
Mohammad Tehranipoor
2008 edition
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.
424 pages, 1, black & white illustrations
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 10. desember 2007 |
| ISBN13 | 9780387747460 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 408 |
| Mål | 155 × 235 × 23 mm · 811 g |
| Språk | Engelsk |
| Redaktør | Tehranipoor, Mohammad |
Vis alle
Mer med Mohammad Tehranipoor
Se alt med Mohammad Tehranipoor ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )