2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed - Ieee - Bøker - IEEE Computer Society Press,U.S. - 9780769507019 - 1. november 2000
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Ieee
2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed

Få en e-post når varen er tilgjengelig
Har du en profil? Logg inn
Få varsel om nye utgivelser fra Ieee

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 1. november 2000
ISBN13 9780769507019
Utgivere IEEE Computer Society Press,U.S.
Antall sider 181
Mål 216 × 273 × 13 mm   ·   650 g   (Estimert vekt)
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Ieee