Fortell venner om denne varen:
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Pris
CA$ 321,99
Bestillingsvarer
Forventes levert 17. - 27. jun
Legg til iMusic ønskeliste
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000
624 pages, 87 black & white illustrations, biography
Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
Utgitt | 31. desember 2000 |
ISBN13 | 9780792366867 |
Utgivere | Springer |
Antall sider | 624 |
Mål | 153 × 234 × 20 mm · 875 g |
Språk | Engelsk |
Redaktør | Griscom, David L. |
Redaktør | Pacchioni, Gianfranco |
Redaktør | Skuja, Linards |