Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Bøker - Springer - 9780792382959 - 31. oktober 1998
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

Angela Krstic

Pris
SEK 1.529

Bestillingsvarer

Forventes levert 30. jul - 7. aug

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
Eller

Finnes også som:

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. oktober 1998
ISBN13 9780792382959
Utgivere Springer
Antall sider 191
Mål 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Språk Engelsk  

Se alt med Angela Krstic ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )