Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 12. oktober 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

Pris
NOK 1.489

Bestillingsvarer

Forventes levert 19. - 27. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Angela Krstic

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 12. oktober 2012
Opprinelig utgitt 1998
ISBN13 9781461375616
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 191
Mål 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Angela Krstic