High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - D.K. Bowen - Bøker - Taylor & Francis Ltd - 9780850667585 - 5. februar 1998
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

D.K. Bowen
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography 1. utgave

Pris
NOK 2.779

Bestillingsvarer

Forventes levert 3. - 17. sep
Få varsel om nye utgivelser fra D.K. Bowen

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.

264 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 5. februar 1998
ISBN13 9780850667585
Utgivere Taylor & Francis Ltd
Antall sider 262
Mål 178 × 263 × 20 mm   ·   656 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med D.K. Bowen ( f.eks. Pocketbok og Innbunden bok )