Fortell venner om denne varen:
Microelectronic Reliability Vol. I: Test Edward B. Hakim
Pris
NOK 1.529
Bestillingsvarer
Forventes levert 23. okt - 6. nov
Få varsel om nye utgivelser fra Edward B. Hakim
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Microelectronic Reliability Vol. I: Test
Edward B. Hakim
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
396 pages, 1, black & white illustrations
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 31. januar 1989 |
| ISBN13 | 9780890062845 |
| Utgivere | Artech House Publishers |
| Antall sider | 396 |
| Mål | 161 × 238 × 30 mm · 771 g |
| Redaktør | Hakim, Edward B. |