Microelectronic Reliability Vol. I: Test - Edward B. Hakim - Bøker - Artech House Publishers - 9780890062845 - 31. januar 1989
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Microelectronic Reliability Vol. I: Test

Pris
NOK 1.529

Bestillingsvarer

Forventes levert 23. okt - 6. nov
Få varsel om nye utgivelser fra Edward B. Hakim
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought


396 pages, 1, black & white illustrations

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. januar 1989
ISBN13 9780890062845
Utgivere Artech House Publishers
Antall sider 396
Mål 161 × 238 × 30 mm   ·   771 g
Redaktør Hakim, Edward B.

Mer fra samme **utgiver**