Fortell venner om denne varen:
Microelectronic Reliability: Integrity a Emiliano Pollino
Pris
NOK 1.609
Bestillingsvarer
Forventes levert 21. okt - 4. nov
Få varsel om nye utgivelser fra Emiliano Pollino
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Microelectronic Reliability: Integrity a
Emiliano Pollino
A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi
556 pages, 1, black & white illustrations
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 1. april 1989 |
| ISBN13 | 9780890063507 |
| Utgivere | Artech House Publishers |
| Antall sider | 556 |
| Mål | 161 × 235 × 41 mm · 1,09 kg |
| Redaktør | Pollino, Emiliano |