CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Bøker - Cambridge University Press - 9781107408326 - 5. juni 2014
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Pris
NOK 419

Bestillingsvarer

Forventes levert 4. - 18. jun

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 5. juni 2014
ISBN13 9781107408326
Utgivere Cambridge University Press
Antall sider 194
Mål 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Estimert vekt)
Språk Engelsk  
Redaktør Butterbaugh, Jeffery W.
Redaktør Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Redaktør Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Redaktør Rachmady, Willy
Redaktør Taylor, Bill

Mere med samme udgiver