High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing - R. Dean Adams - Bøker - Kluwer Academic Publishers - 9781402072550 - 30. september 2002
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing 2002 edition

Pris
NOK 1.429

Bestillingsvarer

Forventes levert 24. nov - 2. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra R. Dean Adams
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.


250 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 30. september 2002
ISBN13 9781402072550
Utgivere Kluwer Academic Publishers
Antall sider 250
Mål 156 × 234 × 15 mm   ·   562 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**