Fortell venner om denne varen:
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing R. Dean Adams 2002 edition
Pris
NOK 1.429
Bestillingsvarer
Forventes levert 24. nov - 2. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra R. Dean Adams
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test - Frontiers in Electronic Testing
R. Dean Adams
Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.
250 pages, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 30. september 2002 |
| ISBN13 | 9781402072550 |
| Utgivere | Kluwer Academic Publishers |
| Antall sider | 250 |
| Mål | 156 × 234 × 15 mm · 562 g |
| Språk | Engelsk |