Image-Based Fractal Description of Microstructures - J.M. Li - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402075070 - 31. juli 2003
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

J.M. Li
Image-Based Fractal Description of Microstructures 2003 edition

Pris
NOK 999

Bestillingsvarer

Forventes levert 13. - 21. okt
Få varsel om nye utgivelser fra J.M. Li

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book.

272 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. juli 2003
ISBN13 9781402075070
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 272
Mål 155 × 235 × 17 mm   ·   616 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med J.M. Li