Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing - Said Hamdioui - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402077524 - 31. mars 2004
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Said Hamdioui
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing 2004 edition

Pris
NOK 1.159

Bestillingsvarer

Forventes levert 2. - 16. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Said Hamdioui

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

221 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. mars 2004
ISBN13 9781402077524
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 221
Mål 155 × 235 × 14 mm   ·   526 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Said Hamdioui ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )