Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909374 - 4. november 2009
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

Pris
NOK 1.169

Bestillingsvarer

Forventes levert 8. - 22. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Alberto Bosio
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.


171 pages, 22 black & white tables, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 4. november 2009
ISBN13 9781441909374
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 171
Mål 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**