Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29. oktober 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Pris
NOK 2.229

Bestillingsvarer

Forventes levert 10. - 18. jun

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 29. oktober 2010
ISBN13 9781441922090
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 522
Mål 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Språk Engelsk  
Redaktør Wang, Zhong Lin
Redaktør Zhou, Weilie

Mere med samme udgiver

Se alt med Weilie Zhou ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )