Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441937674 - 8. desember 2010
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Pris
NOK 1.169

Bestillingsvarer

Forventes levert 19. okt - 2. nov
Få varsel om nye utgivelser fra Leendert M. Huisman
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.


250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 8. desember 2010
ISBN13 9781441937674
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 250
Mål 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g

Mer fra samme **utgiver**