Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945594 - 14. desember 2011
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

Pris
NOK 999

Bestillingsvarer

Forventes levert 14. - 22. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Nisar Ahmed

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

281 pages, black & white illustrations

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 14. desember 2011
ISBN13 9781441945594
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 281
Mål 155 × 235 × 15 mm   ·   421 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Nisar Ahmed