Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 21. september 2011
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Pris
NOK 1.009

Bestillingsvarer

Forventes levert 15. - 23. sep
Få varsel om nye utgivelser fra J. Altet
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.


204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 21. september 2011
ISBN13 9781441952875
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 204
Mål 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**