Fortell venner om denne varen:
Thermal Testing of Integrated Circuits J. Altet Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition
Pris
NOK 1.009
Bestillingsvarer
Forventes levert 15. - 23. sep
Få varsel om nye utgivelser fra J. Altet
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Thermal Testing of Integrated Circuits
J. Altet
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.
204 pages, 102 black & white illustrations, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 21. september 2011 |
| ISBN13 | 9781441952875 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 204 |
| Mål | 155 × 235 × 12 mm · 322 g |
| Språk | Engelsk |