Fortell venner om denne varen:
Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems Amith Singhee 2010 edition
Pris
NOK 1.769
Bestillingsvarer
Forventes levert 20. okt - 3. nov
Få varsel om nye utgivelser fra Amith Singhee
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design - Integrated Circuits and Systems
Amith Singhee
This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs.
246 pages, biography
| Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
| Utgitt | 17. september 2010 |
| ISBN13 | 9781441966056 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sjanger | Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects |
| Antall sider | 246 |
| Mål | 155 × 235 × 15 mm · 539 g |
| Språk | Engelsk |
| Redaktør | Rutenbar, Rob A. |
| Redaktør | Singhee, Amith |