High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31. januar 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Stephan Eggersgluss
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Pris
NOK 969

Bestillingsvarer

Forventes levert 16. - 24. jun

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Finnes også som:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

193 pages, 52 black & white tables, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 31. januar 2012
Opprinelig utgitt 2011
ISBN13 9781441999757
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 193
Mål 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Språk Engelsk  

Mere med samme udgiver

Se alt med Stephan Eggersgluss ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )