Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31. mai 2013
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Pris
NOK 1.079

Bestillingsvarer

Forventes levert 3. - 11. nov
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra Joseph Goldstein
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Media Bøker     Bok
Utgitt 31. mai 2013
ISBN13 9781461349693
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 689
Mål 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Språk Engelsk  

Mer med Joseph Goldstein

Mer fra samme **utgiver**