Fortell venner om denne varen:
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing Frans P. M. Beenker Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition
Pris
NOK 1.469
Bestillingsvarer
Forventes levert 13. - 21. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Frans P. M. Beenker
Legg til iMusic ønskeliste
eller
Finnes også som:
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing
Frans P. M. Beenker
221 pages, black & white illustrations, bibliography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 4. oktober 2012 |
| ISBN13 | 9781461360049 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 212 |
| Mål | 155 × 235 × 12 mm · 326 g |
| Språk | Engelsk |