IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 12. oktober 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Ravi K Gulati
IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Pris
NOK 989

Bestillingsvarer

Forventes levert 30. okt - 9. nov
Få varsel om nye utgivelser fra Ravi K Gulati

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 12. oktober 2012
ISBN13 9781461363774
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 124
Mål 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Språk Engelsk  
Redaktør Gulati, Ravi K.
Redaktør Hawkins, Charles F.

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Ravi K Gulati