Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - S.T. Chadradhar - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461367673 - 28. september 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

S.T. Chadradhar
Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1991 edition

Pris
NOK 959

Bestillingsvarer

Forventes levert 24. nov - 2. des
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Få varsel om nye utgivelser fra S.T. Chadradhar

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 Notation and Tenninology . 3 Minimization Technique . 4 An Example . 1 Transitive Oosure . 3 Path Sensitization . 100 References . 1 Background . 6 Summary 119 References . 2 Contribution of the Present Work . 139 References . 3 Logic Circuit Modeling . 1 Modelfor a Boolean Gate .

197 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 28. september 2012
ISBN13 9781461367673
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 184
Mål 155 × 235 × 11 mm   ·   290 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med S.T. Chadradhar