Fortell venner om denne varen:
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition
Angela Krstic
Pris
SEK 1.529
Bestillingsvarer
Forventes levert 1. - 11. aug
Legg til iMusic ønskeliste
Eller
Finnes også som:
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition
Angela Krstic
In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.
191 pages, biography
| Media | Bøker Pocketbok (Bok med mykt omslag og limt rygg) |
| Utgitt | 12. oktober 2012 |
| Opprinelig utgitt | 1998 |
| ISBN13 | 9781461375616 |
| Utgivere | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antall sider | 191 |
| Mål | 155 × 235 × 11 mm · 299 g |
| Språk | Engelsk |
Se alt med Angela Krstic ( f.eks. Innbunden bok og Pocketbok )