Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4. oktober 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Pris
NOK 989

Bestillingsvarer

Forventes levert 17. - 25. jun

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 4. oktober 2012
ISBN13 9781461377986
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 167
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Språk Engelsk  
Redaktør Zorian, Yervant

Mere med samme udgiver