Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 -  - Bøker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399988 - 2. juni 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

Pris
NOK 519

Bestillingsvarer

Forventes levert 11. - 21. sep
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.


724 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 2. juni 2012
ISBN13 9781461399988
Utgivere Springer-Verlag New York Inc.
Antall sider 704
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   1,14 kg
Språk Engelsk  
Redaktør Barrett, Charles S.
Redaktør Gilfrich, John V.
Redaktør Huang, Ting C.
Redaktør Jenkins, Ron

Mer fra samme **utgiver**